IR孔透過率測(cè)試儀是一套全波長(zhǎng)的0度角透過率檢測(cè)儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透光率，可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測(cè)。

產(chǎn)品型號(hào)：DMS-2

更新時(shí)間：2024-10-29

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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光學(xué)儀器及設(shè)備

閃點(diǎn)測(cè)試儀透射比測(cè)量?jī)x 光度儀/霧度儀/光澤度儀偏光片工業(yè)相機(jī) 三棱鏡透過率測(cè)試儀器

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　　簡(jiǎn)介

　　IR孔透過率測(cè)試儀是一套全波長(zhǎng)的0度角透過率檢測(cè)儀，能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透光率，可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測(cè)。

　　特點(diǎn)

　　智能化軟件操作：可自定義測(cè)量方式和角度，實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品關(guān)注波長(zhǎng)位置的透/反射率數(shù)據(jù)，自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍，高效地進(jìn)行批量樣品檢測(cè)及譜圖對(duì)比分析。

　　譜圖管理：IR孔透過率測(cè)試儀可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖，批量保存測(cè)量結(jié)果，記錄譜圖測(cè)試積分時(shí)間，能對(duì)譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，盡可能地方便了譜圖的管理和分析。

　　自定義測(cè)量方案：用戶可以自行定義測(cè)量的方案，同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測(cè)更快速，結(jié)果更準(zhǔn)確。

　　譜圖數(shù)據(jù)處理功能：備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對(duì)比分析結(jié)果，用戶可自行對(duì)數(shù)據(jù)庫進(jìn)行添加、修改和刪除，還可將測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對(duì)譜圖進(jìn)行分析和研究。

　　CIE顏色測(cè)量功能：可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù)，x，y，L，a，b，飽和度，主波長(zhǎng)等。

　　數(shù)據(jù)報(bào)告打印功能：可快速批量打印樣品測(cè)量數(shù)據(jù)及譜圖，自定義測(cè)量報(bào)告出具單位名稱。

　　技術(shù)參數(shù)

　　型號(hào)DMS(1型)DMS(2型)

　　探測(cè)器Sony線形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD

　　檢測(cè)范圍380-1000nm360-1100nm

　　波長(zhǎng)分辨率1nm1nm

　　信噪比(全信號(hào))250：11000：1

　　相對(duì)檢測(cè)誤cha﹤0。5%(400-800nm)﹤0。2%(400-800nm)

　　單次測(cè)量時(shí)間﹤1s

　　樣品尺寸≥Φ1mm

　　操作系統(tǒng)/接口WindowsXP，WindowsVista/USB2。0